| 专利名称 | 一种小角度测量的结构光方法 | 申请号 | CN201410475833.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104180778A | 公开（授权）日 | 2014.12.03 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 赵文川;李璐璐;范斌 | 主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | 专利有效期 | 一种小角度测量的结构光方法 至一种小角度测量的结构光方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种小角度测量的结构光方法，测量系统包括CCD摄像机、显示屏和计算机。在显示屏上显示特征图样，并投影在被测物体或固定在物体上的反射镜，经反射后由摄像机进行拍摄。CCD拍摄记录下反射回来的特征图样，也就是CCD拍摄记录下显示屏由反射镜形成的虚像。当物体发生转动时，摄像机所拍摄的虚像也会发生转动。对转动前后的虚像进行分析，计算出其转动角度。根据光线反射定律，该角度的一半即为物体转动的角度。本发明结构简单、使用方便、灵敏度高，对环境无特殊要求，可在车间环境中进行检测。 |
1、源头对接，价格透明
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