| 专利名称 | 航天电子器件检测装置 | 申请号 | CN201410425877.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104181423A | 公开（授权）日 | 2014.12.03 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 唐传军;周斌;沈绍祥;方广有 | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 专利有效期 | 航天电子器件检测装置 至航天电子器件检测装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明属于检验检测技术领域，具体涉及一种电子器件检测装置。航天电子器件检测装置，技术方案是，电路板(3)以及导向柱(4)固定安装于固定板(1)，滑动组件(5)安装在套接有弹簧(6)的导向柱(4)上，弹簧(6)的两端分别与滑块(52)、固定板(1)相抵触；检测时，将待检测的电子器件放置于电路板(3)上，下移滑块(52)，令滑柱组件(51)上的绝缘压件(56)以及中心柱压件(57)在滑柱压簧(53)的作用下将器件弹性压接在电路板(3)上，器件的管脚与测试用触点(31)弹性接触，利用锁定组件将滑动组件(5)的位置固定，通过测试用接头(32)接通电路板(3)即可进行检测；本发明适用于多种相同类型器件性能检测。 |
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