| 专利名称 | 一种磁共振成像超导磁体最短长度的获取方法 | 申请号 | CN201410404337.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104157391A | 公开（授权）日 | 2014.11.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电工研究所 | 发明（设计）人 | 倪志鹏;胡格丽;王秋良 | 主分类号 | H01F6/00(2006.01)I | IPC主分类号 | H01F6/00(2006.01)I;H01F41/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种磁共振成像超导磁体最短长度的获取方法 至一种磁共振成像超导磁体最短长度的获取方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种磁共振成像超导磁体最短长度的获取方法，该方法在给定磁共振成像超导磁体所需的预布置线圈区域最小内直径和最大外直径、线圈中加载的平均电流密度、成像区域的中心磁感应强度、成像区域的尺寸和磁场峰峰值均匀度以及5高斯杂散场范围等系统参数条件下，通过固定长度步长的粗调步骤和可变长度步长的自适应步骤进行循环迭代计算，获取磁共振成像超导磁体预布置线圈区域的最短长度，该方法可有效提高磁共振成像系统的开放性和患者检测时的舒适度。 |
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