| 专利名称 | 一种准确测量静磁场B0分布的方法 | 申请号 | CN201410405102.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104155621A | 公开（授权）日 | 2014.11.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院武汉物理与数学研究所 | 发明（设计）人 | 鲍庆嘉;刘朝阳;陈黎;宋侃;陈方 | 主分类号 | G01R33/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/24(2006.01)I | 专利有效期 | 一种准确测量静磁场B0分布的方法 至一种准确测量静磁场B0分布的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种准确测量静磁场B0分布的方法，包括以下步骤：输入脉冲序列及参数；自动优化回波间隔时间；采集两次回波数据，处理回波数据获得相位差数据；将频率编码梯度反向，采集两次回波数据，处理回波数据获得相位差数据；获得最终的相位差数据；计算获得磁场分布数据。本发明采用自旋回波重聚磁场不均匀性对静磁场B0测量的影响，减小由于磁场不均匀性引入的信噪比损失。自动优化两次回波时间ΔTE，可自动获得最大信噪比的相位差数据。采用正向、反向梯度方式两次测量相位差数据的方式消除由于磁场不均匀性引入的编码不准确，提高相位差数据的准确性，以拟合的静磁场分布说明新方法的有效性。 |
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