| 专利名称 | 一种双能X射线相位衬度成像装置及其实现方法 | 申请号 | CN201410384492.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104132953A | 公开（授权）日 | 2014.11.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 吴自玉;王圣浩;胡仁芳;韩华杰;张灿;王志立;高昆 | 主分类号 | G01N23/087(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/087(2006.01)I;A61B6/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种双能X射线相位衬度成像装置及其实现方法 至一种双能X射线相位衬度成像装置及其实现方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种双能X射线相位衬度成像装置及其实现方法，该双能X射线相位衬度成像装置沿光路依次包括X光机、源光栅、分束光栅、样品室、分析光栅和X射线探测器，其中：X光机用于发出X射线；源光栅用于将大焦点的X光源分成为若干个不相干的小焦点光源；分束光栅用于将小焦点光源分成若干束，照射到样品室中的样品上，并在在分析光栅上形成几何投影；样品室用于放置并固定样品，同时带动样品进行旋转；分析光栅用于与分束光栅一起在X射线探测器上形成莫尔条纹；X射线探测器用于获取并记录该莫尔条纹。利用本发明进行双能X射线相位衬度成像时，选取的两个能量值V高和V低可以根据实际情况随意调整，从而扩大双能X射线相位衬度成像的使用范围。 |
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