| 专利名称 | 微流控表面增强拉曼测试芯片 | 申请号 | CN201420232065.4 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203929645U | 公开（授权）日 | 2014.11.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学院物理研究所 | 发明（设计）人 | 尹彦;叶通 | 主分类号 | G01N21/65(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/65(2006.01)I;B01L3/00(2006.01)I | 专利有效期 | 微流控表面增强拉曼测试芯片 至微流控表面增强拉曼测试芯片 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种微流控表面增强拉曼测试芯片。该芯片包括：第一硬质基板；第二硬质基板，与第一硬质基板相对平行设置；以及由具有SERS活性的金属材料形成的金属层，设置在第一硬质基板和第二硬质基板之间，并由第一硬质基板延伸至第二硬质基板；其中，金属层包括由多个金属柱形成的金属柱群，每一金属柱沿从第一硬质基板到第二硬质基板的厚度方向延伸，并且金属柱群中任意两个相邻的金属柱之间形成供待测流体通过的微流道。本实用新型通过在测试芯片的检测区设置具有三维增益柱面的金属柱群，大大增加了检测区与待测分子的接触面积，大幅提升了增益系数和检测灵敏度。 |
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