| 专利名称 | 一种光学元件表面显微散射暗场图像的拼接方法 | 申请号 | CN201410407683.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104123708A | 公开（授权）日 | 2014.10.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所;中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 发明（设计）人 | 尹英杰;张正涛;熊召;刘长春;徐德;张峰;陶显;白明然 | 主分类号 | G06T5/50(2006.01)I | IPC主分类号 | G06T5/50(2006.01)I | 专利有效期 | 一种光学元件表面显微散射暗场图像的拼接方法 至一种光学元件表面显微散射暗场图像的拼接方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种光学元件表面显微散射暗场图像的拼接方法，包括：采用线阵相机沿着指定路径扫描光学元件表面；对左右相邻的显微散射暗场图像的感兴趣区域提取SIFT特征匹配点对；采用并行聚类算法对所述SIFT特征匹配点对进行筛选，得到最佳特征匹配点对集合；利用最佳特征匹配点对集合计算两图像重叠部分的变换矩阵，并运用变换矩阵实现图像的拼接。本发明的方法能够稳定快速地完成光学元件表面显微散射暗场图像拼接，耗时短，鲁棒性高，拼接误差小。 |
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