| 专利名称 | 利用分布式直流电场同时测定颗粒物的淌度和介电淌度的方法 | 申请号 | CN201410305364.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104122316A | 公开（授权）日 | 2014.10.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院化学研究所 | 发明（设计）人 | 陈义;朱秀珍 | 主分类号 | G01N27/447(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N27/447(2006.01)I | 专利有效期 | 利用分布式直流电场同时测定颗粒物的淌度和介电淌度的方法 至利用分布式直流电场同时测定颗粒物的淌度和介电淌度的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种利用分布式直流电场同时测定颗粒物的淌度和介电淌度的方法。本发明通过设计电泳通道结构使外加直流电场出现分布区域，引起颗粒物电泳和介电电泳耦合迁移，再由显微成像系统记录颗粒物的耦合运动轨迹与速度，最后通过速度矢量分解或数据拟合等方法来计算出每个颗粒物的淌度和介电淌度。由此结合统计分析，可得到同类颗粒物的平均淌度和平均介电淌度。通过本发明的测定结果，将有助于更准确地研究细胞等颗粒物的表面电荷性质和分子识别的特性；就细胞而言，还可以帮助预测细胞捕获、分选、富集等过程中细胞的运动轨迹，或优化电泳系统特别是通道形状的设计；同时本发明也提供了一种新的表征分类颗粒物的新参数。 |
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