| 专利名称 | 集成电路内建自测试所需测试向量的生成电路及方法 | 申请号 | CN201410392231.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104122497A | 公开（授权）日 | 2014.10.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院自动化研究所 | 发明（设计）人 | 涂吉;王子龙;李立健 | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 专利有效期 | 集成电路内建自测试所需测试向量的生成电路及方法 至集成电路内建自测试所需测试向量的生成电路及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种集成电路内建自测试所需测试向量的生成电路，包括地址计数器发送地址数据序列；序列计数器发送数据序列；种子及多项式系数存储单元与地址计数器连接，发送压缩的难测、易测向量的输出值；序列发生器分别与序列计数器和种子及多项式系数存储单元连接，输出2比特数据；权重产生逻辑单元用于输出4路数据值；四选一数据选择器分别连接权重产生逻辑单元、序列发生器输出一路数据；输入寄存器与四选一数据选择器连接，用于寄存数据并装载更新数据；扫描链分别与输入寄存器以及被测电路组合逻辑单元连接，输出更新变化的数据；被测电路与扫描链连接，用于检测被测电路故障。本发明还提供一种集成电路内建自测试所需测试向量生成方法。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障