| 专利名称 | 一种荧光检测银离子含量的方法 | 申请号 | CN201410354030.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104111244A | 公开（授权）日 | 2014.10.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院化学研究所 | 发明（设计）人 | 唐亚林;史运华;孙红霞;杨千帆 | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/64(2006.01)I | 专利有效期 | 一种荧光检测银离子含量的方法 至一种荧光检测银离子含量的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明一种荧光检测银离子含量的方法，公开了一种检测银离子浓度的方法。利用银离子调控可形成i-motif结构的特性以及菁染料聚集体识别i-motif结构的特性，将待测液体样品加入到能形成i-motif结构的DNA分子与菁染料混合溶液中，通过测定波长在530-700nm处荧光强度值，即可在银离子浓度标准曲线上找到其对应的银离子浓度值。该方法特异性高，选择性好，试剂成分简单，反应过程简单，可有效减少操作产生的误差，测试精确度高。该方法在普通荧光光谱仪便可快速检测，不需要特殊或额外仪器，检测成本低廉，便于行业内推广应用。 |
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