| 专利名称 | 凸透镜焦距的测量装置和测量方法 | 申请号 | CN201410353007.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104111163A | 公开（授权）日 | 2014.10.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 朱海东;郭爱林;祝沛;胡恒春;唐仕旺;马晓君;谢兴龙 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 凸透镜焦距的测量装置和测量方法 至凸透镜焦距的测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种凸透镜焦距的测量装置和测量方法，该装置由1053nm光纤点光源、激光测距仪、精密移动导轨、待测凸透镜、剪切干涉板、毛玻璃屏和CCD组成。利用CCD观察经透镜准直后输出光束在剪切干涉板形成的条纹图样，调节光纤点光源在精密移动导轨的移动方向及位置，最终使得1053nm点光源处于焦面位置，然后利用激光测距仪测量得到透镜焦距。本发明具有结构简单，调整方便，测量精度高的特点，并可利用测量过程中产生的横向剪切干涉条纹对凸透镜光学质量进行评估，为凸透镜装校和光学加工提供有价值的检测数据。 |
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