| 专利名称 | 绝对水平基准精度测试系统 | 申请号 | CN201420223619.4 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203881347U | 公开（授权）日 | 2014.10.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 潘亮;陆卫国;肖茂森;白建明;于芳苏;任晚娜;孙国燕;田留德;薛勋;陈永权;段亚轩;胡丹丹;赵怀学 | 主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 绝对水平基准精度测试系统 至绝对水平基准精度测试系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种绝对水平基准精度测试系统，该绝对水平基准精度测试系统包括二维电子水平仪、平面反射镜、整平基座以及双轴自准直仪；二维电子水平仪、平面反射镜以及整平基座自上而下依次设置在一起；双轴自准直仪设置在平面反射镜的上方并与平面反射镜置于同一光路。本实用新型提供了一种高自动化、高效率以及高精度的绝对水平基准精度测试系统。 |
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