| 专利名称 | 一种推扫色散型成像光谱仪的快速绝对辐射定标方法 | 申请号 | CN201410323960.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104101430A | 公开（授权）日 | 2014.10.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电研究院 | 发明（设计）人 | 张雪静;景娟娟;周锦松;李雅灿;付锡禄;冯蕾;曾晓茹 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | 专利有效期 | 一种推扫色散型成像光谱仪的快速绝对辐射定标方法 至一种推扫色散型成像光谱仪的快速绝对辐射定标方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种推扫色散型成像光谱仪的快速绝对辐射定标方法，通过采用钨灯与氙灯的组合作为光源，调整两种光源的亮度比例可以得到不同光谱特征的光源，弥补了仅由钨灯做光源时短波波段辐亮度低的不足；并在采集过程中，多次调节钨灯与氙灯的亮度比例，这种调节不需要精确的控制，只保证亮度比有所改变即可，因此可在短时间内完成，分别测试成像光谱仪的响应，并用标准光谱辐射度计进行监测，这种数据采集方式可提供多组光谱特征不同的数据，计算绝对辐射定标系数时便可以从中择优使用；最后，在计算绝对辐射定标系数时，从实验数据中选择成像光谱仪响应最高的一组，定标精度得到保证，计算过程全部由计算机完成，保证了计算效率。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障