真空低温辐射敏感度电磁兼容试验系统及测试装置

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专利名称 真空低温辐射敏感度电磁兼容试验系统及测试装置 申请号 CN201420284515.4 专利类型 实用新型 公开(公告)号 CN203858313U 公开(授权)日 2014.10.01 申请(专利权)人 中国科学院高能物理研究所 发明(设计)人 韩大炜;杨彦佶;陈勇;徐玉朋;王于仨;崔苇苇;李炜 主分类号 G01R31/00(2006.01)I IPC主分类号 G01R31/00(2006.01)I 专利有效期 真空低温辐射敏感度电磁兼容试验系统及测试装置 至真空低温辐射敏感度电磁兼容试验系统及测试装置 法律状态 说明书摘要 本实用新型公开一种真空低温辐射敏感度电磁兼容试验系统,包括天线、电子学系统、实验室电源、监控系统和测试装置,测试装置包括真空罐、真空泵和温控设备,真空罐包括不锈钢罐体和透波玻璃窗,透波玻璃窗安装在不锈钢罐体的一端;真空泵连通真空罐,对真空罐抽真空;温控设备连通真空罐,对真空罐进行低温或升温控制。测试装置中容置探测器,探测器电性连接电子学系统,实验室电源为电子学系统提供电源,监控系统电性连接电子学系统,天线对应测试装置,并靠近透波玻璃窗。本实用新型的测试装置采用真空罐,以容置探测器,并通过真空泵对该真空罐进行抽真空,通过温控设备将真空罐内部控制在低温环境下,使得探测器处于真空低温的测试环境中。

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