| 专利名称 | 适用于大口径光电探测系统的波前光学抖动分析方法 | 申请号 | CN201410312571.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104075882A | 公开（授权）日 | 2014.10.01 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 杨飞;安其昌;赵宏超;苏燕芹;郭鹏 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 适用于大口径光电探测系统的波前光学抖动分析方法 至适用于大口径光电探测系统的波前光学抖动分析方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 |
适用于大口径光电探测系统的波前光学抖动分析方法，涉及光学系统检测领域，解决了现有功率谱方法不适用于大口径光电探测系统的光学抖动分析的问题。用法方程对原始波前信息进行拟合，求解波前Zernike多项式系数，得去除低阶波像差的波前像差数据；用周期图法计算二维功率谱估计及功率谱频域平均半径，并进行功率谱坍陷；将二维功率谱一维形式代入式(4)反演计算，得与实际光学抖动具有相同统计规律的数值波前，并将其用于光学系统的性能分析与误差分配； |
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