| 专利名称 | 用于测量样品的热电性能的样品座及测量方法 | 申请号 | CN201310087023.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104062318A | 公开（授权）日 | 2014.09.24 | 申请（专利权）人 | 国家纳米科学中心 | 发明（设计）人 | 王汉夫;官爱强;褚卫国;郭延军;金灏;熊玉峰 | 主分类号 | G01N25/48(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N25/48(2006.01)I;G01R27/14(2006.01)I | 专利有效期 | 用于测量样品的热电性能的样品座及测量方法 至用于测量样品的热电性能的样品座及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种用于测量样品的热电性能的样品座以及测量方法，其有助于提高热电性能测量的可靠性，该样品座包括基座（2）、绝缘垫片（3）、两个第一压块（4）、两个第二压块（5）、两个第三压块（6）和两个温差加热器（7和7′），其中：基座（2）上铺设绝缘垫片（3），两个第一压块（4）间隔安装在绝缘垫片（3）上，两个第二压块（5）分别位置相对地叠压在所述两个第一压块（4）上，被测样品（8）悬置并且两端分别固定在所述第一压块（4）与第二压块（5）之间，两个第三压块（6）分别位置相对地叠压在两个第二压块（5）上，各个第二压块（5）与第三压块（6）之间分别放置一个温差加热器（7或7′）。 |
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