| 专利名称 | 测量激光器内量子效率和内损耗的方法 | 申请号 | CN201410307562.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104062575A | 公开（授权）日 | 2014.09.24 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 汪洋;龚谦;柳庆博;曹春芳;成若海;严进一;李耀耀 | 主分类号 | G01R31/26(2014.01)I | IPC主分类号 | G01R31/26(2014.01)I;G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 测量激光器内量子效率和内损耗的方法 至测量激光器内量子效率和内损耗的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种通过外部光反馈装置改变有效反射率来测量激光器内量子效率和内损耗的方法，包括以下步骤：S1：在激光器光路上设置一外部光反馈装置；S2：将激光器的腔面与外部光反馈装置的镜面等效为一个等效腔面；通过改变外部光反馈装置的反射率来调节反馈强度，改变激光器自身的输出功率；S3：测量不同反馈强度下激光器的电流-功率关系，得到多条I-P曲线；S4：由所述I-P曲线计算出各反馈强度下的外微分量子效率；S5：通过外微分量子效率与外部光反馈装置的反射率的函数关系拟合出激光器的内量子效率和内损耗。本发明具有只需要测试一个激光器的特点，从而消除了多个激光器测量带来的离散误差，同时带来方便、快捷、成本低、可靠性高的优点。 |
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