| 专利名称 | 一种基于预扫描和非均匀采样的薄层快速磁共振成像方法 | 申请号 | CN201410313197.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104042216A | 公开（授权）日 | 2014.09.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院武汉物理与数学研究所 | 发明（设计）人 | 吕植成;周欣;孙献平;蒋滨;叶朝辉;刘买利 | 主分类号 | A61B5/055(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B5/055(2006.01)I;G06T5/00(2006.01)I;G06F19/00(2011.01)I | 专利有效期 | 一种基于预扫描和非均匀采样的薄层快速磁共振成像方法 至一种基于预扫描和非均匀采样的薄层快速磁共振成像方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于预扫描和非均匀采样的薄层快速磁共振成像方法，此方法适用于层厚较薄的多层磁共振成像过程。在成像过程中，由于层厚薄磁共振信号的信噪比较差，通常需要使用对同一层面信号进行多次采集然后平均的方式来提高信噪比，这使得成像时间较长。本发明公开的成像方法首先通过对各扫描层的单次预扫描获取各层信噪比较低的数据，然后对各层k空间数据进行分析，提取各层k空间数据中大信号的位置信息。在接下来的重复扫描过程中，结合非均匀采样方法只对各层k空间中的大信号区域多次采样提高信噪比，而不是对整个k空间进行多次采样。通过这种方法实现在更短时间内获取和传统方法相比质量相当或更高质量的图像。 |
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