| 专利名称 | 提高基于电光调制波导的傅立叶变换光谱测量精度的方法 | 申请号 | CN201410321916.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104048758A | 公开（授权）日 | 2014.09.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 祁志美;李金洋;逯丹凤 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | 专利有效期 | 提高基于电光调制波导的傅立叶变换光谱测量精度的方法 至提高基于电光调制波导的傅立叶变换光谱测量精度的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种提高基于电光调制波导的傅立叶变换光谱测量精度的方法。该方法利用多种已知波长单色光源测量电光调制波导在不同波长下的半波电压，建立半波电压与波长的函数依赖关系；在测量待测光源时，首先采用一已知波长激光器测量该调制器半波电压，利用测得的半波电压修正已建立的半波电压与波长的函数依赖关系，而后测量该电光调制波导在待测光源入射时输出光强随调制电压变化的干涉图谱，对该干涉图谱进行离散傅立叶变换处理，得到入射光功率随半波电压的分布曲线，利用修正后的半波电压与波长的函数依赖关系将入射光功率随半波电压的分布曲线转换为待测光源发射光谱。本发明有效消除了电光调制波导半波电压波动对光谱测量结果的影响。 |
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