| 专利名称 | 非磁性金属薄板磁声电成像无损检测装置及检测方法 | 申请号 | CN201410243302.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104034857A | 公开（授权）日 | 2014.09.10 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电工研究所 | 发明（设计）人 | 刘国强;夏慧;李艳红;李士强;李晓南;郭亮 | 主分类号 | G01N33/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N33/20(2006.01)I | 专利有效期 | 非磁性金属薄板磁声电成像无损检测装置及检测方法 至非磁性金属薄板磁声电成像无损检测装置及检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种非磁性金属薄板的磁声电成像无损检测装置，其超声激励子系统(1)连接超声探头(9)，超声探头(9)与被测非磁性金属薄板(6)之间通过耦合剂接触，电磁激励子系统(2)连接线圈(8)。检测时，线圈(8)连接信号检测处理子系统(5)，信号检测处理子系统(5)连接图像重建子系统(4)，控制子系统(3)连接超声激励子系统(1)、电磁激励子系统(2)、信号检测处理子系统(5)和图像重建子系统(4)。所述的线圈(8)既作为发射线圈又作为接收线圈，作为激励线圈为被测非磁性金属薄板(6)提供静磁场，同时作为接收线圈接收被测非磁性金属薄板(6)在超声激励和电磁激励作用下的感应电动势信号。 |
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