| 专利名称 | 一种光电跟踪性能检测方法 | 申请号 | CN201410258920.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104034511A | 公开（授权）日 | 2014.09.10 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 贾建军;白帅;石小丽;王娟娟;杨明冬;秦文 | 主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种光电跟踪性能检测方法 至一种光电跟踪性能检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于可便携检测装置的光电跟踪性能检测方法。它对待测设备的跟踪范围、跟踪速度和跟踪精度等指标进行测试。本发明为光电跟踪系统提供了大范围、机动性强的动态跟踪靶标，同时可模拟光轴的微振动干扰，且测试系统结构简单，易于搭建和携带，可在不同场合下灵活使用。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障