| 专利名称 | 一种检测微通道板暗计数的装置 | 申请号 | CN201320843427.9 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203799020U | 公开（授权）日 | 2014.08.27 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 刘永安;盛立志;刘哲;李林森;赵宝升 | 主分类号 | G01T1/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种检测微通道板暗计数的装置 至一种检测微通道板暗计数的装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型提出了一种检测微通道板暗计数的装置，包括用于测试MCP性能的真空腔室、电极引线、光子计数成像探测器、电子读出电路、数据采集与处理单元以及电源；光子计数成像探测器设置在真空腔室内；电子读出电路、数据采集与处理单元依次与真空腔室连接；电源与电极引线、光子计数成像探测器连接。本实用新型检测微通道板暗计数的装置，利用“光子计数成像技术”能够同时得到MCP暗计数的数量、位置分布和脉冲高度分布（PHD）等信息，为光子计数成像探测、粒子探测和微光成像等应用提供筛选低噪声MCP的技术。 |
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