| 专利名称 | 一种干涉圆迹SAR高程估计处理方法 | 申请号 | CN201410238847.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104007439A | 公开（授权）日 | 2014.08.27 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 刘燕;林赟;谭维贤;洪文;王彦平 | 主分类号 | G01S13/90(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S13/90(2006.01)I | 专利有效期 | 一种干涉圆迹SAR高程估计处理方法 至一种干涉圆迹SAR高程估计处理方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种干涉圆迹SAR高程估计方法，包括：步骤1，粗估计出场景DEM；步骤2，在粗估计出的场景DEM的基础上，对InSAR平台主、副天线分别独立进行BP成像，其中采用分子孔径的方式对主副天线获取的圆迹SAR数据进行BP成像，每n度为一个子孔径，得到360/n个子孔径图像对，n是大于等于1的自然数；步骤3，对于每个子孔径图像对，进行干涉处理；步骤4，将步骤3获得的各子孔径图像对干涉处理估计的场景高程，根据其干涉系数的大小，进行加权平均，得到360度观测下的高程图；步骤5，将步骤4估计出的高程图作为步骤2中的参考DEM输入，重复步骤2到4若干次，直到干涉图像的干涉系数不再下降。 |
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