| 专利名称 | 基于栅格分束器的空间调制型光谱仪及制作方法 | 申请号 | CN201410086288.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN104006884A | 公开（授权）日 | 2014.08.27 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 梁中翥;王维彪;梁静秋;吕金光;秦余欣;田超;王文丛 | 主分类号 | G01J3/45(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/45(2006.01)I;G01N21/35(2014.01)I;G01N21/01(2006.01)I | 专利有效期 | 基于栅格分束器的空间调制型光谱仪及制作方法 至基于栅格分束器的空间调制型光谱仪及制作方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 基于栅格分束器的空间调制型光谱仪及制作方法，涉及光谱分析仪器领域，解决现有光谱仪结构内部存在着可动部件，导致其体积、重量较大的问题，包括准直系统、样品池、干涉系统、缩束系统和探测器，干涉系统包括多级小阶梯微反射镜、栅格型分束器和多级大阶梯微反射镜；红外光源发出的光经准直系统准直成红外平行光，平行光经过样品池样品吸收后经栅格型分束器分成相干的两束光；两束光分别入射到多级大阶梯微反射镜和多级小阶梯微反射镜上，并经多级小阶梯微反射镜反射到栅格型分束器；经栅格型分束器反射后的光经缩束系统后，在红外面阵探测器上获得干涉条纹；对干涉条纹做傅里叶变换就可以获得待测物的光谱信息。 |
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