| 专利名称 | 基于双波长光源的轴锥镜锥角检测装置及检测方法 | 申请号 | CN201410219304.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103994734A | 公开（授权）日 | 2014.08.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 王莹;曾爱军;张运波;黄惠杰 | 主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | 专利有效期 | 基于双波长光源的轴锥镜锥角检测装置及检测方法 至基于双波长光源的轴锥镜锥角检测装置及检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种基于双波长光源的轴锥镜锥角检测装置，特点在于该装置由双波长光源、聚焦透镜、滤光小孔、分光镜、准直透镜、成像透镜、第一图像传感器、第二图像传感器、第一位置调整机构和第二位置调整机构组成，本发明装置和方法具有结构简单、计算方便和不需要标准镜等优点。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障