| 专利名称 | 利用潘宁放电区分托卡马克残余气体中氦与氘的光学质谱计诊断技术 | 申请号 | CN201410108391.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103995047A | 公开（授权）日 | 2014.08.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院等离子体物理研究所 | 发明（设计）人 | 王厚银;胡建生 | 主分类号 | G01N27/68(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N27/68(2006.01)I | 专利有效期 | 利用潘宁放电区分托卡马克残余气体中氦与氘的光学质谱计诊断技术 至利用潘宁放电区分托卡马克残余气体中氦与氘的光学质谱计诊断技术 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种利用潘宁放电区分托卡马克残余气体中氦与氘的光学质谱计诊断技术，利用D2和He放电产生的低温等离子体发射光谱的特征光谱He-I和D-α波长迥异，将待测气体D2和He引入电离室，安装在电离室一侧的潘宁放电系统电离该待测气体产生低温等离子体，随后分析该等离子体产生的He-I谱线和D-α光谱，进而测量出两种气体（He和D2）的绝对含量，实现实时监测托卡马克中He和D2演化的诊断技术，从而解决了由于He和D2分子质量数接近（He：4.003，D2：4.028）导致商业质谱计无法区分的难题，该诊断技术为ITER以及将来DEMO上可能的原位测量He/D2提供了直接的工程和物理经验积累。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障