| 专利名称 | 用于在低温下对分置式杜瓦焊缝加压检漏的装置 | 申请号 | CN201420028499.2 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203772505U | 公开（授权）日 | 2014.08.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 张珏颖;王小坤;沈一璋;曾智江 | 主分类号 | G01M3/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M3/20(2006.01)I | 专利有效期 | 用于在低温下对分置式杜瓦焊缝加压检漏的装置 至用于在低温下对分置式杜瓦焊缝加压检漏的装置 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种用于在低温下对分置式杜瓦焊缝加压检漏的装置，它适用于检查分置式杜瓦冷平台与芯柱之间焊缝的焊接质量。本实用新型的检漏装置包括冷指、盖帽、直角铜管、冷帽、弹簧、冷链座、螺母、螺栓、O型圈、铜管、充气接头、充气活塞。将已装配好冷链座、弹簧、冷帽的冷指插入焊好冷平台的芯柱内，弹簧被压缩产生弹力，将冷帽顶在冷平台上。将抽好真空的检漏装置接入氦质谱检漏仪，向冷指内倒入液氮，使冷平台通过冷链座与冷帽冷到所需的温度。当液氮快蒸发完毕时，冲入氦气至冷指与芯柱形成的密闭腔体中，观察漏率。本实用新型可模拟分置式红外探测器组件杜瓦的工作状态，预先检测出分置式红外探测器组件杜瓦是否会发生“冷漏”现象。 |
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