| 专利名称 | 获得稀疏微波成像相变图的方法 | 申请号 | CN201410225128.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103983960A | 公开（授权）日 | 2014.08.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 赵曜;毕辉;张冰尘 | 主分类号 | G01S7/41(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S7/41(2006.01)I;G01S13/89(2006.01)I | 专利有效期 | 获得稀疏微波成像相变图的方法 至获得稀疏微波成像相变图的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种获得稀疏微波成像相变图的方法。该方法包括：步骤A：建立稀疏微波雷达成像模型；步骤B：接收给定的U组稀疏微波成像参数，其中，每一组稀疏微波成像参数包括：稀疏度ρ、降采样比δ、信噪比SNR；步骤C：对于每一组稀疏微波成像参数，进行L组重建实验，得到该组稀疏微波成像参数重建概率的统计值Pu(ρu，δu，SNRu)，u＝1、2、……、U；步骤D：由多组稀疏微波成像参数对应的重建概率的统计值获得相变图，相变图中坐标为(ρu、δu、SNRu)的点对应的值为Pu(ρu，δu，SNRu)，其中，u＝1、2、……、U。本发明可以实现稀疏微波成像相变图的快速计算。 |
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