一种改进监视系统的有效面积法测量孔径光阑面积的装置

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专利名称 一种改进监视系统的有效面积法测量孔径光阑面积的装置 申请号 CN201410193131.6 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN103983215A 公开(授权)日 2014.08.13 申请(专利权)人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明(设计)人 杨振岭;陈祥子;方伟;王玉鹏 主分类号 G01B11/28(2006.01)I IPC主分类号 G01B11/28(2006.01)I 专利有效期 一种改进监视系统的有效面积法测量孔径光阑面积的装置 至一种改进监视系统的有效面积法测量孔径光阑面积的装置 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明一种改进监视系统的有效面积法测量孔径光阑面积的装置,涉及高精度测量光阑面积领域,解决了监视测量结果不准确的技术问题;本发明包括hene激光器、可变光阑A、光束分离器、可变光阑B和可变光阑C、x-y平移台、监视系统和探测系统;所述探测系统包括积分球a和探测器a,探测器a安装在积分球a上,所述hene激光器、可变光阑A、光束分离器、可变光阑B、孔径光阑和探测系统的积分球从左至右依次排列,并且其中心在同一水平线上;本发明的监测系统与探测系统结构相同、型号相同、收集光束的方法相同,能够精准检测激光光束的稳定性,保证了监测结果的准确性。

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