| 专利名称 | 一种叶面积指数测量方法及系统 | 申请号 | CN201410229812.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103983217A | 公开（授权）日 | 2014.08.13 | 申请（专利权）人 | 中国科学院遥感与数字地球研究所 | 发明（设计）人 | 张兵;焦全军;刘良云;胡勇;刘新杰;唐凤莉 | 主分类号 | G01B11/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/28(2006.01)I | 专利有效期 | 一种叶面积指数测量方法及系统 至一种叶面积指数测量方法及系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种叶面积指数测量方法及系统，其中叶面积指数测量方法，包括：获取样方内采集叶片的图像；以采集叶片的图像为依据，获取样方内所采集的全部叶片的面积；获取样方内残余叶片的图像；基于残余叶片的图像，获取样方内残余叶片的面积；将采集的全部叶片的面积和残余叶片的面积加和，得到样方内的叶片总面积A，这样将采集的全部叶片的面积和残余叶片的面积加和后得到的叶片总面积基本等于样方内所有叶片的面积，再依据公式：LAI＝A/S得到样方的叶面积指数LAI的准确度相对提高，其中S为样方面积。 |
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