| 专利名称 | 一种针对超衍射结构材料近场倏逝波光场透过率传输特性函数的远场检测方法 | 申请号 | CN201410175832.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103969225A | 公开（授权）日 | 2014.08.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 罗先刚;赵泽宇;王长涛;王彦钦;姚纳;胡承刚;蒲明薄;王炯;曾波;马晓亮 | 主分类号 | G01N21/59(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/59(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种针对超衍射结构材料近场倏逝波光场透过率传输特性函数的远场检测方法 至一种针对超衍射结构材料近场倏逝波光场透过率传输特性函数的远场检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种针对超衍射结构材料近场倏逝波光场透过率传输特性函数的远场检测方法，采用器件从上到下依次包括透明基底层、激发光栅层、超衍射结构材料层和检测光栅层。其中从透明基底背面入射的照明光通过激发光栅层激发出倏逝波级次，超衍射结构材料层可对倏逝波级次进行横向波矢的空间频率高通滤波从而形成一个具有特定横向波矢近场透过率的倏逝波光场，检测光栅层可将倏逝波级次转换为传输波级次传输至远场，最终在远场可接收到与倏逝波成份一一对应的检测光。该方法将可应用于对超衍射结构材料倏逝波光场横向波矢近场透过率传输特性函数的远场探测，实现对倏逝波光场的横向波矢近场分布及其相应波矢能量透过效率的定性分析以及定量检测。 |
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