| 专利名称 | 最小二乘法测量液晶校正器响应矩阵的方法 | 申请号 | CN201410203990.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103969031A | 公开（授权）日 | 2014.08.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 宣丽;张杏云;李大禹;刘永刚;穆全全;夏明亮;胡立发;曹召良;徐焕宇 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 最小二乘法测量液晶校正器响应矩阵的方法 至最小二乘法测量液晶校正器响应矩阵的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明属于自适应光学领域，是最小二乘法测量液晶波前校正器响应矩阵的方法。本发明采用大量随机系数组合的Zernike模式波面，将这些计算出来的波面逐一施加在液晶波前校正器上，通过哈特曼波前探测器依次测出对应波面的光点阵斜率数据，构成测量矩阵，进而利用测量矩阵与响应矩阵间的计算关系、通过最小二乘矩阵算法消除测量中的误差，得出精确响应矩阵。分别利用常规测量的和最小二乘法统计测量的响应矩阵进行了湍流干扰下的光纤束自适应校正成像，如图所示，(a)为校正前，(b)与(c)分别对应前后两方法的成像效果，看出最小二乘法统计测量的响应矩阵确实使成像清晰度提高，经径向平均功率检测得出(c)的峰值是(b)的3倍。 |
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