| 专利名称 | 一种测量双片波片补偿器中光轴偏差角的方法 | 申请号 | CN201310039434.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103968783A | 公开（授权）日 | 2014.08.06 | 申请（专利权）人 | 北京智朗芯光科技有限公司;中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 崔高增;刘涛;李国光 | 主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测量双片波片补偿器中光轴偏差角的方法 至一种测量双片波片补偿器中光轴偏差角的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种测量双片波片补偿器中光轴偏差角的方法，属于光学器件技术领域。该方法基于无样品直通式旋转波片椭偏光学系统，包括步骤1：旋转双片波片补偿器，得到不同波长下的光谱强度；步骤2：对探测单元接收到的各个波长下的光谱强度作傅里叶展开或拟合，得到不同波长下的实验傅里叶系数α′4,β′4；步骤3：计算得到光轴偏差角Δc。该方法通过旋转波片，可以测量出双片波片中光轴对准的偏差角度，即光轴偏差角，并且，在使用时，起偏器P和检偏器A可处于任意的角度。 |
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