| 专利名称 | 高复现性光学元件面形检测支撑装置 | 申请号 | CN201410187136.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103968796A | 公开（授权）日 | 2014.08.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 王辉;周烽;郭本银;谢耀;王丽萍;金春水 | 主分类号 | G01B21/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B21/20(2006.01)I | 专利有效期 | 高复现性光学元件面形检测支撑装置 至高复现性光学元件面形检测支撑装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 高复现性光学元件面形检测支撑装置，属于光学元件干涉检测技术领域。解决了现有技术中检测支撑装置和光学元件间存在接触副摩擦力，导致光学元件检测状态和最终使用状态不同的技术问题。本发明的支撑装置包括支撑盘和设置在支撑盘上的相同的支撑单元，支撑盘上设有圆形通孔和沿圆形通孔周向分布的至少三个相同的凹槽；凹槽相对的两个面上对称且平行设置有四片相同的柔性铰链；支撑单元包括球面凸台和两组相同的轴承结构；轴承结构包括轴承、销轴和销轴压板，轴承通过销轴和销轴压板固定在相对的两片柔性铰链上；球面凸台固定在光学元件的外圆周面上。本发明的支撑装置能够实现极高的面形复现性且对支撑的光学元件的受热和振动影响极小。 |
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