| 专利名称 | 长波长扫描近场显微分析系统 | 申请号 | CN201410200652.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103954802A | 公开（授权）日 | 2014.07.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 陆亚林;杨蒙蒙;黄秋萍;胡翔;陆轻铀 | 主分类号 | G01Q60/18(2010.01)I | IPC主分类号 | G01Q60/18(2010.01)I | 专利有效期 | 长波长扫描近场显微分析系统 至长波长扫描近场显微分析系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种长波长扫描近场显微分析系统。该长波长扫描近场显微分析系统集成宽频长波长和单频太赫兹波、利用扫描探针、集成可变电场、可变磁场、可变温度场的近场显微分析系统，填补了在近场显微领域里长波长波段的技术空白，连接起近场光学显微技术、近场微波显微技术，为科研人员提供了一种全方位的样品物性测试工具。 |
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