| 专利名称 | 波导阵列天线高功率性能测试装置 | 申请号 | CN201410095103.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103954856A | 公开（授权）日 | 2014.07.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学院等离子体物理研究所 | 发明（设计）人 | 刘亮;赵连敏;刘甫坤;朱文华 | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 专利有效期 | 波导阵列天线高功率性能测试装置 至波导阵列天线高功率性能测试装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种波导阵列天线高功率性能测试装置，包括微波源，环形器，真空室，真空规管，待测天线单元，波导弧光探测器，陶瓷窗，波导弯头，定向耦合器，阻抗失配器和水负载等。微波源输出大功率微波；环行器用于吸收反射波，保护微波源；真空室用于建立、维持、并改变待测天线单元所处环境的真空度；真空规管用于测量真空室内部的真空度；波导弧光探测器用于探测待测天线单元内部的打火；陶瓷窗实现真空室与微波传输线的气体密封和能量传输；波导弯头用于改变微波传播方向；定向耦合器通过对微波信号进行取样，测量入射和反射功率大小；阻抗失配器的作用是人为引入传输失配，制造所需比例的反射功率；水负载用于吸收近乎全部的入射功率。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障