| 专利名称 | 压缩光谱成像系统测量矩阵的获取方法 | 申请号 | CN201410161282.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103954357A | 公开（授权）日 | 2014.07.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 韩申生;陈喆;吴建荣 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I;G01J1/00(2006.01)I | 专利有效期 | 压缩光谱成像系统测量矩阵的获取方法 至压缩光谱成像系统测量矩阵的获取方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种基于随机波前相位调制的压缩光谱成像系统测量矩阵的获取方法。通过本方法获取基于随机波前相位调制的压缩光谱成像系统的测量矩阵时，需要在系统的光路中加入宽带热光源、光谱滤波装置、针孔光阑以及放大成像透镜。本发明利用基于随机波前相位调制的压缩光谱成像系统的局域空间平移不变性，通过较少的测量次数获得该系统的测量矩阵；还通过将原始探测面上的散斑光强分布放大成像到探测面上的方法获得高对比度的散斑场，提高测量矩阵的信噪比。 |
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