双波长量化相位成像和荧光成像联合系统

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专利名称 双波长量化相位成像和荧光成像联合系统 申请号 CN201310016989.0 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN103940787A 公开(授权)日 2014.07.23 申请(专利权)人 中国科学院生物物理研究所 发明(设计)人 付彦辉;罗志勇;纪伟;贾策;张翔;仓怀兴;徐涛 主分类号 G01N21/64(2006.01)I IPC主分类号 G01N21/64(2006.01)I;G01N21/45(2006.01)I 专利有效期 双波长量化相位成像和荧光成像联合系统 至双波长量化相位成像和荧光成像联合系统 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明提供了一种双波长量化相位成像和荧光成像联合系统。本发明将共聚焦原理应用在量化相位成像,将荧光成像与量化相位成像结合,采用位相调制和双波长调制的方法,在提高了量化相位显微系统的信噪比和分辨率的同时,获得高分辨率的荧光图像,在细胞荧光成像、结构成像、物体内部结构、表面检测等方面具有良好的应用。

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