| 专利名称 | 用于光电测量设备性能指标检测的倒摆式模拟目标源 | 申请号 | CN201410120281.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103925938A | 公开（授权）日 | 2014.07.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 张宁;沈湘衡;宋莹 | 主分类号 | G01D18/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01D18/00(2006.01)I | 专利有效期 | 用于光电测量设备性能指标检测的倒摆式模拟目标源 至用于光电测量设备性能指标检测的倒摆式模拟目标源 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种用于光电测量设备性能指标检测的倒摆式模拟目标源，包括：竖直方向上依次设置的多个用来模拟具有不同俯仰角的无穷远光学目标的相互平行的平行光管；在多个平行光管像面处安放有不同形状的分划板，其用来产生多个用于光电测量设备成像的目标。本发明提出的倒摆式模拟目标源可以为光电测量设备室内性能检测提供静态检测目标源和动态目标源一体化的检测设备；并且可以产生具有多种具有不同俯仰角的运动目标源；目标轨迹更符合实际状态，对光电测量设备室内静、动态性能检测具有重要意义。 |
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