| 专利名称 | 一种快速测量射电望远镜反射面精度的方法 | 申请号 | CN201410159400.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103926548A | 公开（授权）日 | 2014.07.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院新疆天文台 | 发明（设计）人 | 裴鑫;陈卯蒸;刘志勇;马军;王娜 | 主分类号 | G01R35/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R35/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种快速测量射电望远镜反射面精度的方法 至一种快速测量射电望远镜反射面精度的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种快速测量射电望远镜反射面精度的方法，可有效解决大口径射电望远镜反射面精度测量中测量时间长、测量精度低、固定俯仰测量、需额外硬件设备辅助等问题。本发明是一种特殊的相位恢复微波全息法，只需测量天线孔径场幅度，而对其相位采用一定的方法进行恢复。本发明可采用任意稳定的射电天文源作为其信号源，利用天文接收机和终端（功率辐射计），对天线聚焦和离焦下的波束图进行扫描；利用泽尼克多项式函数建立天线孔径相位模型，通过最小化算法对模型值和实测值的残差进行迭代运算，便可获取残差矢量最小的最优解，以得到泽尼克多项式系数，并反推获得天线的孔径相位分布，即可获得射电望远镜的反射面精度。 |
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