| 专利名称 | 一种测量阻变存储器激活能的方法 | 申请号 | CN201410144275.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103928057A | 公开（授权）日 | 2014.07.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 卢年端;李泠;刘明;孙鹏霄;王明;刘琦 | 主分类号 | G11C29/08(2006.01)I | IPC主分类号 | G11C29/08(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测量阻变存储器激活能的方法 至一种测量阻变存储器激活能的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种测量阻变存储器激活能的方法，包括：测量阻变存储器的I-V曲线，并从该I-V曲线来确定阻变存储器的低阻态电流值及高阻态电流值；计算在低阻态及高阻态下阻变存储器导电细丝中的电流；计算阻变存储器高阻态下导电细丝的外加电场；计算高低阻态下载流子跃迁的激活能。利用本发明，通过简单的方法可以测量出阻变存储器的激活能，大大减少了测量误差，并能够区分出电子运动、离子扩散等载流子运动时各自的激活能，为研究阻变存储器的微观物理机制提供理论指导。 |
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