| 专利名称 | 一种环形振荡器测试系统 | 申请号 | CN201320833795.5 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN203688739U | 公开（授权）日 | 2014.07.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 卜建辉;曾传滨;张刚;罗家俊;韩郑生 | 主分类号 | G01R31/26(2014.01)I | IPC主分类号 | G01R31/26(2014.01)I | 专利有效期 | 一种环形振荡器测试系统 至一种环形振荡器测试系统 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本实用新型提供了一种环形振荡器测试系统，包括：输入电压源，通过稳压部分与环形振荡器的输入端相连；稳压部分，分别与输入电压源和环形振荡器的输入端相连；示波器，与环形振荡器的输出端相连，其特征是环形振荡器的输出端就近引出。与现有技术相比，采用本实用新型提供的技术方案具有如下优点：通过采用在输入端加入稳压部分，同时在输出端就近引出的方法，可以减少寄生电容的影响，从而在测试成本较低的情况下得到较好的测试效果。 |
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