| 专利名称 | 一种准确控制厚度的表层沉积物采样装置 | 申请号 | CN201410125476.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103900850A | 公开（授权）日 | 2014.07.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院海洋研究所 | 发明（设计）人 | 李学刚;宋金明;袁华茂;李宁;段丽琴 | 主分类号 | G01N1/10(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N1/10(2006.01)I | 专利有效期 | 一种准确控制厚度的表层沉积物采样装置 至一种准确控制厚度的表层沉积物采样装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及海洋监测技术领域，具体为一种准确控制厚度的表层沉积物采样装置。包括采样深度控制装置、刮泥装置、样品储存盘及外支架，其中样品储存盘的一侧为敞开口，所述外支架设置于样品储存盘的上方，所述采样深度控制装置设置于样品储存盘的敞开口侧、并上端与外支架连接，所述采样深度控制装置可上下移动，所述刮泥装置设置于样品储存盘内、并与样品储存盘的敞开口侧相对的样品储存盘后侧板连接，所述刮泥装置可前后移动。本发明适用于海洋、河流、湖泊底质监测调查时采集一定厚度的表层沉积物，可简单、方便的控制所采沉积物的厚度，获得满意的表层沉积物样品。 |
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