| 专利名称 | 用于单次相关测量仪时间分辨率的精密标定方法 | 申请号 | CN201410119550.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103900724A | 公开（授权）日 | 2014.07.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 欧阳小平;杨冬;王杨;杨琳;朱宝强;朱健强 | 主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 用于单次相关测量仪时间分辨率的精密标定方法 至用于单次相关测量仪时间分辨率的精密标定方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种用于单次相关测量仪时间分辨率的精密标定方法，首先将分划板安装到第一相关光束或者第二相关光束中，使其垂直于光束传输方向；然后通过角度尺测量相关光束的夹角；最后通过光电探测器检测分划板在相关信号上的投影，并计算得到时间分辨率。本发明方法对于标定脉冲的脉宽不敏感，能够在标定脉冲的脉宽接近或大于自相关仪、顶部变化平缓导致相关信号的脉冲峰值辨认困难的情况下得到具有较小误差、较高准确性的时间分辨率。 |
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