| 专利名称 | X射线吸收谱的原位加热装置 | 申请号 | CN201210564335.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103884725A | 公开（授权）日 | 2014.06.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 洪才浩;安鹏飞;张静;胡天斗 | 主分类号 | G01N23/06(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/06(2006.01)I;G01N23/223(2006.01)I;G01N1/44(2006.01)I | 专利有效期 | X射线吸收谱的原位加热装置 至X射线吸收谱的原位加热装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供的X射线吸收谱的原位加热装置，包括样品架和样品室。样品架包括盖部、穿设于盖部的两电极及电偶、设置于两电极下端的加热部，电偶伸入加热部。样品室包括样品室主体，设置于样品室主体的第一通光窗、第二通光窗、第三通光窗，以及与样品室主体连通的抽真空接口。其中，样品室主体的顶壁上开设有上开口，其侧壁上开设有第一通光孔、第二通光孔和第三通光孔，第一通光窗对应于第一通光孔设置于样品室主体的外侧，第二通光窗对应于第二通光孔设置于样品室主体的外侧，第三通光窗对应于第三通光孔设置于样品室主体的外侧，盖部下侧的电极、电偶及加热部由上开口伸入到样品室主体内，盖部螺接于样品室主体而形成密封的腔体。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障