| 专利名称 | 纹影测量成像系统及方法 | 申请号 | CN201410068835.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103884486A | 公开（授权）日 | 2014.06.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院力学研究所 | 发明（设计）人 | 戴国亮;孙志斌;代斌;王静 | 主分类号 | G01M9/06(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M9/06(2006.01)I | 专利有效期 | 纹影测量成像系统及方法 至纹影测量成像系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种纹影测量成像系统和方法，该系统包括光源，用于输出光信号；以及沿所述光源输出光信号路径依次设置的第一聚焦透镜、狭缝光阑、第一准直透镜、流场观测区域、第二聚焦透镜、刀口、第二准直透镜、数字微阵列反射镜、汇聚透镜和单点光电探测器；压缩算法模块，其与单点光电探测器电信号连接，用于重构图像，通过对图像的纹影计算方法计算出观测流场的结构分布。本发明将压缩感知理论与纹影测量相结合，创造性的提出稀疏纹影测量方法，具有高通量、高信噪比、快速灵活的特点，适宜于常规光强、弱光、微弱光、超微弱光和单光子纹影测量方式，是一种大动态范围的稀疏纹影测量方法。 |
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