一种脉冲激光个数优化方法及单粒子翻转截面的测试方法

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专利名称 一种脉冲激光个数优化方法及单粒子翻转截面的测试方法 申请号 CN201210536186.3 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN103869237A 公开(授权)日 2014.06.18 申请(专利权)人 中国科学院空间科学与应用研究中心 发明(设计)人 封国强;上官士鹏;韩建伟;马英起;余永涛;姜昱光;朱翔;陈睿 主分类号 G01R31/311(2006.01)I IPC主分类号 G01R31/311(2006.01)I;G01J11/00(2006.01)I 专利有效期 一种脉冲激光个数优化方法及单粒子翻转截面的测试方法 至一种脉冲激光个数优化方法及单粒子翻转截面的测试方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明涉及一种优化脉冲激光个数的方法,该方法用于优化脉冲激光测试器件单粒子翻转截面的脉冲激光个数,针对某一激光能量Ei,脉冲激光个数F采用如下步骤确定:步骤101)获取在该激光能量下的光斑面积τ和器件单个功能单元面积Δ;步骤102)获取激光个数判决参考值,该判决参考值为上述光斑面积τ和器件单个功能单元面积Δ的比值;步骤103)当判决参考值大于1时,所述激光个数依据光斑面积大小确定;当判决参考值小于1时,所述激光个数依据单个功能单元面积确定。当判决参考值n大于1时,所述激光个数F=1/kτ;当n小于1时,所述激光个数F=1/kΔ,其中k为调制因子,其取值范围为1-25。

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