| 专利名称 | 一种添加选择性检测试剂的介质阻挡放电质谱电离源装置 | 申请号 | CN201210536370.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103871826A | 公开（授权）日 | 2014.06.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 发明（设计）人 | 侯可勇;陈文东;李海洋;李芳龙;陈平;谢园园 | 主分类号 | H01J49/10(2006.01)I | IPC主分类号 | H01J49/10(2006.01)I;H01J49/12(2006.01)I | 专利有效期 | 一种添加选择性检测试剂的介质阻挡放电质谱电离源装置 至一种添加选择性检测试剂的介质阻挡放电质谱电离源装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明设计了一种添加选择性检测试剂的介质阻挡放电质谱电离源装置，包括：T型玻璃管、中心地电极、射频高压电极和前端地电极。T型玻璃管的后端口为放电气体入口，中端口为选择性检测试剂气体入口，前端口为放电形成的等离子体出口。该电离装置工作时在射频高压电极与中心地电极、前端地电极之间形成两个放电区域，可以产生更多的热量用于样品热解析，提高电离效率。当在T型玻璃管的中端口通入选择性检测试剂气体时，试剂气体可选择性地与某种物质反应形成新的离子而使其与另一些物质区分开来，提高检测选择性，有利于样品的定性分析，并且不会腐蚀中心地电极，延长电极使用寿命。 |
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