| 专利名称 | 靶场光学测量设备姿态测量精度的测量方法 | 申请号 | CN201410100646.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103868528A | 公开（授权）日 | 2014.06.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 田留德;段炯;段亚轩;龙江波;赵怀学;赵建科;周艳;潘亮;王争锋 | 主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 靶场光学测量设备姿态测量精度的测量方法 至靶场光学测量设备姿态测量精度的测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种靶场光学测量设备姿态测量精度的测量方法，包括：1）确定模拟目标；2）选用姿态板；3）将姿态板安装在平行光管上；4）将平行光管固定在可倾斜桁架上；5）对姿态板中心点进行测量；6）对模拟目标进行多点测量；7）对各模拟目标的姿态进行拟合；8）计算被测姿态测量设备像面上姿态板中心点的像到各模拟目标的像的距离；9）被测姿态测量设备对模拟目标进行动态成像；10）将被测姿态测量设备获得的各目标像的倾角及姿态板中心点的像到各模拟目标像的距离与所得到的各模拟目标的倾角和姿态板中心点的像到各模拟目标像的距离的真值进行比较。本发明可为靶场光测设备的设计和改进提供数据依据，提高测试精度。 |
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