| 专利名称 | 一种同时测算束流质谱与能谱的方法 | 申请号 | CN201410057324.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103852779A | 公开（授权）日 | 2014.06.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院等离子体物理研究所 | 发明（设计）人 | 梁立振;胡纯栋;杨思浩;邑伟;顾玉明;谢远来;赵祥学;韦江龙;王艳 | 主分类号 | G01T1/29(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/29(2006.01)I | 专利有效期 | 一种同时测算束流质谱与能谱的方法 至一种同时测算束流质谱与能谱的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种同时测算束流质谱与能谱的方法，在束流传输装置上设计两个观察窗口，一个观察窗口的观测视线与束流传输方向垂直；另一个观察窗口的观测视线与束流传输方向成某一倾斜角度；分别将两套收光与光传输系统安装到两个观察窗口上，并安装收光与光传输系统与光谱学分光与记录设备的连接接口；光谱学分光与记录设备进行波长绝对标定；分析光谱信号中特征谱线的频移信号的频移量，根据该特征谱线的频移信号的展宽可分析对应能量成份的能谱分布情况；利用各能量成份频移信号的大小，结合所对应该能量成份粒子特征谱线发射截面的大小，测算出束流质谱。本发明提供了一次获得束流质谱与能谱信息的方法，不会对束流带来任何损失。 |
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